现场用电桥测量介质损耗因数，出现-tanδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδX②电场干扰③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。
（A）对
（B）错
参考答案
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