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(A)随着芯片尺寸的减小,芯片良率呈现指数级下降
(B)随着芯片尺寸的增加,芯片良率呈现指数级下降
(C)随着芯片尺寸的增加,芯片良率不会发生较大变化
(D)随着芯片尺寸的增加,芯片良率呈现缓慢下降趋势