在半导体芯片生产中，要将直径 8 英寸 (约合 20cm) 的晶圆盘 (Wafer ) 切削成 3000 粒小芯 片 (Die ).目前由于工艺水平的限制，小芯片仍有约 1％~2％的不良率，在试生产了一段时间， 生产初步达到了稳定.为了检测小芯片的不良率，在两个月内每天固定抽检 5 个晶圆盘，测出不良 小芯片总数，要根据这些数据建立控制图，这时应选用下列何种控制图？()
（A）np 图和 p 图都可以，两者效果一样
（B）np 图和 p 图都可以，np 图效果更好
（C）np 图和 P 图都可以，p 图效果更好
（D）以上都不对
参考答案
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