在半导体芯片生产中，要将直径8英寸(约合20厘米)的晶圆盘(wafer)切削成3000粒小芯片(die)。目前由于工艺水平的限制，小芯片仍有约百分之一至二的不良率。在试生产了一段时间，生产初步达到了稳定。为了检测小芯片的不良率，在两个月内每天固定抽检5个晶圆盘，测出不良小芯片总数，要根据这些数据建立控制图，这时应选用下列何种控制图？()
（A）NP图和P图都可以，两者效果一样
（B）NP图和P图都可以，NP图效果更好
（C）NP图和P图都可以，P图效果更好
（D）以上都不对
参考答案
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