单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。|磁粉考试试题

单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。

（A）近场干扰

（B）材质衰减

（C）盲区

（D）折射

参考答案

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