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磁粉
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直射法探伤时试件的探测面应选在与缺陷最大表面()。
(A)相垂直的面
(B)相平行的面
(C)倾斜的面
(D)A和B
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1
超声波容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。
2
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3
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4
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5
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6
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