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磁粉
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盲区最小的探伤方法是()。
(A)缺陷回波法
(B)多次回波法
(C)透过波高度法
(D)双晶片法
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1
纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰减很小,但探伤图形中既无缺陷波又无底波,这是由于试件中存在()。
2
凡是能够影响磁场的物质,称为磁介质。
3
高矫顽力材料制成的工件可用剩磁法探伤。( )
4
触头法中,磁场方向垂直于电极连线。( )
5
荧光磁粉在紫外线照射下一般是黄绿色的。( )
6
单色射线是指()。
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