试件内部的、光滑的片状的与探测面垂直的缺陷能有效发现该缺陷的探伤方法是()。|磁粉考试试题

试件内部的、光滑的片状的与探测面垂直的缺陷能有效发现该缺陷的探伤方法是()。

（A）单探头法

（B）斜探头法

（C）双晶片直射法

（D）串列式探伤

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