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纵波直射法探测平板形试件时,如果仪器工作条件和耦合状态良好,试件材质衰减很小,但探伤图形中既无缺陷波又无底波,这是由于试件中存在()。

（A）与探测面平行的大缺陷

（B）与探测面垂直的大缺陷

（C）与探测面倾斜的大缺陷

（D）以上都可能